LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)
LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)目前，硬度測試可采用的方法很多，如布氏、洛式、維氏、里氏、超聲波法等。其中布氏和洛式對被測物表面損傷較大、而維氏成本較高，且都不能測試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測量硬度，測試布氏、洛式、維氏偏差較大。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無損檢測方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國外普及。
LAB-H1 超聲波硬度計(jì)原理
使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測量硬度的目的，該方法對被測件的損傷極小，與上述其它方法相比具有很大的優(yōu)越性?；谝陨显?，我公司引進(jìn)歐洲原裝超聲波硬度計(jì)探頭，研制出精度高、功能強(qiáng)大的LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。
超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f，Eeff），△f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量、F是彈簧壓緊力。
應(yīng)用場合
LAB-H1超聲波硬度計(jì)可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測量；錐度部分硬度測量；軸和薄壁管道、容器的測量；車輪、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測量；鉆頭的刀口的硬度測量；焊接部位；
LAB-H1超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)
o 測定與金屬、合金洛氏(HRC), 布氏 (HB), 維氏 (HV)標(biāo)準(zhǔn)硬度制
o 通過三個(gè)用戶模式測量不同屬性的金屬(如有色金屬, 高合金等.)
o 符合標(biāo)準(zhǔn)JBT 9377-2010、ASTM A1038-2005、DIN50159
o 通過布氏硬度可自動計(jì)算出抗拉強(qiáng)度
o 可測量厚度超過1毫米的各種部件（工模、齒輪、薄板、管道、水箱等等）
o 對曲軸刀具等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小
o 測量范圍寬
o 使用簡單方便，測量快速準(zhǔn)確
o 可自行校準(zhǔn)儀器(通過兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對儀器測值校準(zhǔn))
o 液晶顯示，帶背光
o 自由選擇10N、50N、100N探頭，儀器自動識別
o 不受測量物內(nèi)側(cè)情況影響，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位
o 測量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測量
LAB-H1超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
|
測試范圍
洛氏硬度, HRC
布氏硬度, HB
維氏硬度, HV
抗拉強(qiáng)度, MPa
|
20 - 70
90 - 450
230 - 940
370 - 1740
|
|
誤差范圍
洛氏硬度, HRC
布氏硬度, HB
維氏硬度, HV
|
± 1
± 3%
± 3%
|
|
外形尺寸, mm
|
122x65 x24
|
|
操作溫度° C
|
-5至+40
|
|
電源
|
2節(jié)AA電池
|
|
持續(xù)工作時(shí)間, 不少于
|
100小時(shí)
|
|
主機(jī)重量, kg
|
0.9千克
|
訂貨型號
|
名稱型號
|
產(chǎn)品描述
|
|
超聲波硬度計(jì) LAB-H1
|
標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支
|
|
復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2
|
標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭
|
|
里氏硬度計(jì) LAB-H3
|
標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支
|
標(biāo)準(zhǔn)配置清單
o 主機(jī)
o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）
o 2節(jié)AA電池
o 說明書
o 線纜
o 儀器便攜包裝
o 2個(gè)硬度標(biāo)準(zhǔn)塊
可選配置
o 10N探頭和100N探頭
o 充電器
o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊
超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)
|
測試裝置
|
超聲波探頭
|
里氏探頭
|
|
長度：
|
160mm
|
140mm
|
|
直徑
|
25mm
|
25mm
|
|
壓痕深度
|
30μm
|
300 μm
|
|
壓力
|
14.7N
|
11Nm
|
|
傳感器測試壽命
(大約)
|
200,000
|
50,000
|
|
*小測試厚度
(鋼)
|
1mm
|
12mm
|
|
*小測試半徑
|
5mm
|
10mm
|
|
*大表面粗糙度
|
Ra 2.5 μm
|
Ra 3.2 μm
|
|
數(shù)據(jù)存儲
|
1000個(gè)測試值
|
100個(gè)測試值
|
|
測試時(shí)間
|
4秒
|
2秒
|
